| http://dbpedia.org/ontology/abstract
|
Lorsqu'une couche mince aux parois semi-ré … Lorsqu'une couche mince aux parois semi-réfléchissantes est éclairée en lumière monochromatique parallèle, les rayons issus de la couche sont déphasés entre eux, puisque certains, en rebondissant à l'intérieur, ont pris du retard sur les autres, comme l'illustre le schéma ci-contre. Si la lumière incidente arrive avec un angle , elle est réfractée avec un angle , avec d'après la loi de Snell-Descartes, où est l'indice de réfraction de la couche mince d'épaisseur . On peut alors exprimer la différence de marche entre un rayon qui sort de la couche et un autre rayon qui est réfléchi une fois de plus : Et donc en utilisant la relation de Snell-Descartes : (Ce qui correspond à un déphasage .) Ces deux rayons parallèles peuvent être amenés à interférer si on place une lentille convergente à la sortie de la couche mince. Les interférences sont observées sur un écran placé au plan focal de la lentille. Par principe de superposition l'amplitude résultante est alors la somme des deux amplitudes. Les maxima d'intensité correspondent à un ordre d'interférence entier, c'est-à-dire à . Remarque : on a traité ici le cas où la source de lumière et l'observateur sont situés de part et d'autre de la couche mince. Si on se place au contraire du même côté de la couche que la source, c'est-à-dire que les deux rayons lumineux qui interfèrent sont d'une part un rayon qui se réfléchit directement à l'extérieur de la couche, et d'autre part un rayon qui se réfléchit une fois, alors il faut ajouter un déphasage de , dû à la réflexion.outer un déphasage de , dû à la réflexion.
, 薄膜干渉（はくまくかんしょう）は、薄膜の上下の境界で反射された光波が互いに干渉し、特定の波長の反射光を増強又は低減させる自然現象である。
, Thin-film interference is a natural phenom … Thin-film interference is a natural phenomenon in which light waves reflected by the upper and lower boundaries of a thin film interfere with one another, either enhancing or reducing the reflected light. When the thickness of the film is an odd multiple of one quarter-wavelength of the light on it, the reflected waves from both surfaces interfere to cancel each other. Since the wave cannot be reflected, it is completely transmitted instead. When the thickness is a multiple of a half-wavelength of the light, the two reflected waves reinforce each other, increasing the reflection and reducing the transmission. Thus when white light, which consists of a range of wavelengths, is incident on the film, certain wavelengths (colors) are intensified while others are attenuated. Thin-film interference explains the multiple colors seen in light reflected from soap bubbles and on water. It is also the mechanism behind the action of antireflection coatings used on glasses and camera lenses. The true thickness of the film depends on both its refractive index and on the angle of incidence of the light. The speed of light is slower in a higher-index medium; thus a film is manufactured in proportion to the wavelength as it passes through the film. At a normal angle of incidence, the thickness will typically be a quarter or half multiple of the center wavelength, but at an oblique angle of incidence, the thickness will be equal to the cosine of the angle at the quarter or half-wavelength positions, which accounts for the changing colors as the viewing angle changes. (For any certain thickness, the color will shift from a shorter to a longer wavelength as the angle changes from normal to oblique.) This constructive/destructive interference produces narrow reflection/transmission bandwidths, so the observed colors are rarely separate wavelengths, such as produced by a diffraction grating or prism, but a mixture of various wavelengths absent of others in the spectrum. Therefore, the colors observed are rarely those of the rainbow, but browns, golds, turquoises, teals, bright blues, purples, and magentas. Studying the light reflected or transmitted by a thin film can reveal information about the thickness of the film or the effective refractive index of the film medium. Thin films have many commercial applications including anti-reflection coatings, mirrors, and optical filters.on coatings, mirrors, and optical filters.
, التداخل الضوئي في الاغشيه الرقيقه (بالإنجل … التداخل الضوئي في الاغشيه الرقيقه (بالإنجليزية: Thin-film interference) أن من الممكن أن يتقاطع شعاعان ضوئيان بدون أن يسبب إحداهما أي تغير أو تحوير في الآخر بعد أن يعبرا منطقة التقاطع، بهذا المعنى يقال أن الشعاعين لايتداخل إحداهما مع الآخر. ومع كل ذلك يجب علينا أن نتوقع أن السعة المحصلة والشدة المحصلة في منطقة التقاطع، حيث يؤثر كلا الشعاعين في نفس الوقت، قد تختلف كثيرأً عن مجموع مساهمتي الشعاعين إذا كانا يعملان كل على حدة.هذا التحوير في الشدة نتيجة لتراكيب حزمتين ضوئيتين أو أكثر يسمى التداخل.
* إذا كانت الشدة المحصلة صفرا أو اقل عموماً مما نتوقعه نتيجة الشدتين المنفصلتين فان التداخل يسمى التداخل الهدام .
* أما إذا كانت الشدة المحصلة أكبر من مجموع الشدتين المنفصلتين فان هذا يسمى بالتداخل البناء . هذه الظاهرة صعبة الملاحظة إلى حد بعيد حتى ولو كانت في ابسط مظاهرها نظراً لقصر الطول الموجي للضوء، لهذا لم تفهم هذه الظاهرة بهذا المعنى قبل عام 1800 حيث كانت النظرية الجسمية للضوء هي السائدة .وقد كان أول من نجح في تفسير التداخل الضوئي واثبات الطبيعة الموجية .ولكن لكي نستطيع فهم تجربته الرائدة التي أجراها في عام 1801 يجب علينا أولا أن ندرس تطبيق مبدأ هام ينطبق على أي نوع من حركات الموجية على الضوء.طبق على أي نوع من حركات الموجية على الضوء.
, Интерфере́нция в тóнких плёнках — явление, … Интерфере́нция в тóнких плёнках — явление, которое возникает в результате разделения луча света при отражении от верхней и нижней границ тонкой плёнки. В результате возникают две световые волны, которые могут интерферировать. Тонкоплёночная интерференция объясняет цветовую палитру, видимую в свете, отражённом от мыльных пузырей и масляных плёнок на воде. Это явление также является основополагающим механизмом, используемым в объективах камер, зеркалах, оптических фильтрах и антибликовых покрытиях.ических фильтрах и антибликовых покрытиях.
, Las interferencias tienen lugar cuando la … Las interferencias tienen lugar cuando la luz incidente en una lámina delgada es reflejada por las superficies superior e inferior. Al llegar a la primera superficie de separación parte de la luz se refleja (A) y parte se refracta. La parte que se refracta llegará a la segunda superficie de separación donde, de nuevo, parte se refleja y parte se refracta. La parte que se refleja vuelve a la primera superficie de separación y se transmitirá al medio inicial (B). Si el espesor de la lámina es muy pequeño la distancia entre A y B puede ser muy pequeña, del orden de la longitud de onda, así que al final será como tener dos rendijas (experimento de Young), y esto dará lugar a figuras de interferencia. Un ejemplo de esto son los colores que aparecen en una pompa de jabón. Cuando la luz incidente es luz monocromática, las figuras de interferencia aparecerán como bandas claras y oscuras. Las bandas claras corresponden a las regiones en las que tiene lugar la interferencia constructiva entre las ondas reflejadas mientras que las bandas oscuras tienen lugar cuando la interferencia es destructiva.ar cuando la interferencia es destructiva.
, Die Reflektometrische Dünnschichtmessung i … Die Reflektometrische Dünnschichtmessung ist ein Messverfahren, das auf den Prinzipien der Dünnschichtinterferenz beruht, und dazu dient, die Schichtdicke von dielektrischen Dünnschichten zu bestimmen. Außerdem kann aus den Daten der Brechungsindex des Materials gewonnen werden. Diese Informationen sind von zunehmender Bedeutung, da Dünnschichten heutzutage vielfach eingesetzt werden, z. B. bei Antireflexionsbeschichtungen, der Beschichtung von medizinischen Implantaten oder in der Solarindustrie.en Implantaten oder in der Solarindustrie.
, 假設照射一束光波於薄膜，由於折射率不同，光波會被薄膜的上界面與下界面分別反射，因相互 … 假設照射一束光波於薄膜，由於折射率不同，光波會被薄膜的上界面與下界面分別反射，因相互干涉而形成新的光波，這現象稱為薄膜干涉。對於這現象的研究可以透露出關於薄膜表面的資訊，這包括薄膜的厚度、折射率。薄膜的商業用途很廣泛，例如，增透膜、鏡子、濾光器等等。 现在考虑在另一种材料上的一层薄膜。这种情况下，薄膜的上下表面同时反射光线。总反射光是两部分反射光的总和。由于光的波动性，两个界面的反射光可能干涉相长（强度增加）或干涉相消（强度减小），这取决于它们的相位关系。相位关系取决于两个反射光不同的光程，而光程取决于薄膜厚度，光学常数，和波长。 又光線由光疏介質進入光密介質被反射，光的相位會轉180度（i必須+1/2），所以當光程差2nd = (i+1/2)λ时，两组反射光干涉相長；相反的，當光程差2nd = iλ時，两组反射光相位相反，因而干涉相消。（d是薄膜厚度，i是整数，2是因为下表面反射光穿过薄膜两次） 由此可以看出，薄膜反射率随着1/波长（波长倒数）周期性地变化，如下图所示。较厚的薄膜在给定波长范围内有较多的振荡，而较薄的膜在给定波长范围内有较少，常常不完整的振荡。膜在给定波长范围内有较多的振荡，而较薄的膜在给定波长范围内有较少，常常不完整的振荡。
|
| http://dbpedia.org/ontology/thumbnail
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Dieselrainbow.jpg?width=300 +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageExternalLink
|
https://web.archive.org/web/20150409152325/http:/rugth30.phys.rug.nl/pdf/StavengaMatTodayProc2014.pdf +
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageID
|
27301235
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageLength
|
24397
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageRevisionID
|
1110527208
|
| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageWikiLink
|
http://dbpedia.org/resource/File:LHcockpitWindow.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/File:Thin_film_interference_-_anti-reflection_coating.gif +
, http://dbpedia.org/resource/File:Thin_film_interference_-_oil_film.gif +
, http://dbpedia.org/resource/File:Newton_Mess_Iridescence.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Optical_flat +
, http://dbpedia.org/resource/File:Thin_film_interference_phase_2.svg +
, http://dbpedia.org/resource/Oil_film +
, http://dbpedia.org/resource/File:Thin_film_interference_gasoline_on_water_@_589nm.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/File:Thin_film_interference_phase_1.svg +
, http://dbpedia.org/resource/Nitric_acid +
, http://dbpedia.org/resource/Flatness_%28manufacturing%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Newton%27s_rings +
, http://dbpedia.org/resource/Snell%27s_law +
, http://dbpedia.org/resource/Glass +
, http://dbpedia.org/resource/Fabry%E2%80%93Perot_interferometer +
, http://dbpedia.org/resource/File:Soap_bubble_sky.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/File:Antireflection_coating_split_pic.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Light +
, http://dbpedia.org/resource/Aglais_io +
, http://dbpedia.org/resource/Interference_%28wave_propagation%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Transfer-matrix_method_%28optics%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Thin-film_optics +
, http://dbpedia.org/resource/Robert_Hooke +
, http://dbpedia.org/resource/Electron_microscope +
, http://dbpedia.org/resource/Prism_%28optics%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Cosine +
, http://dbpedia.org/resource/Structural_color +
, http://dbpedia.org/resource/Physical_vapor_deposition +
, http://dbpedia.org/resource/Optical_filter +
, http://dbpedia.org/resource/Retina +
, http://dbpedia.org/resource/Reflectivity +
, http://dbpedia.org/resource/Ellipsometry +
, http://dbpedia.org/resource/Refractive_index +
, http://dbpedia.org/resource/Water +
, http://dbpedia.org/resource/Sputtering +
, http://dbpedia.org/resource/Scarabaeidae +
, http://dbpedia.org/resource/Interference_filter +
, http://dbpedia.org/resource/Angle_of_incidence_%28optics%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Augustin_Fresnel +
, http://dbpedia.org/resource/Reflection_phase_change +
, http://dbpedia.org/resource/Attenuation +
, http://dbpedia.org/resource/Micrographia +
, http://dbpedia.org/resource/Diffraction_grating +
, http://dbpedia.org/resource/Iridescence +
, http://dbpedia.org/resource/Glasses +
, http://dbpedia.org/resource/Dielectric +
, http://dbpedia.org/resource/File:Thin_film_interference.svg +
, http://dbpedia.org/resource/Isaac_Newton +
, http://dbpedia.org/resource/File:Thinfilmbubble.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Heinrich_Hertz +
, http://dbpedia.org/resource/Light_wave +
, http://dbpedia.org/resource/Wavelength +
, http://dbpedia.org/resource/Vacuum_pump +
, http://dbpedia.org/resource/File:Dieselrainbow.jpg +
, http://dbpedia.org/resource/Tapetum_lucidum +
, http://dbpedia.org/resource/Soap_bubble +
, http://dbpedia.org/resource/Opticks +
, http://dbpedia.org/resource/Joseph_Fraunhofer +
, http://dbpedia.org/resource/Thin_film +
, http://dbpedia.org/resource/File:Tempering_standards_used_in_blacksmithing.JPG +
, http://dbpedia.org/resource/Monochrome +
, http://dbpedia.org/resource/Peacock +
, http://dbpedia.org/resource/James_Clerk_Maxwell +
, http://dbpedia.org/resource/Vacuum_deposition +
, http://dbpedia.org/resource/Fresnel_equations +
, http://dbpedia.org/resource/Reflected_light +
, http://dbpedia.org/resource/Mirror +
, http://dbpedia.org/resource/Ernest_Merritt +
, http://dbpedia.org/resource/Thomas_Young_%28scientist%29 +
, http://dbpedia.org/resource/File:Laser_dielectric_output_coupler_centered_@_550nm.png +
, http://dbpedia.org/resource/Lawes%27s_parotia +
, http://dbpedia.org/resource/Nanometer +
, http://dbpedia.org/resource/Chemical_vapor_deposition +
, http://dbpedia.org/resource/Fluorite +
, http://dbpedia.org/resource/Transmission_%28wave_propagation%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Buttercup +
, http://dbpedia.org/resource/Lord_Rayleigh +
, http://dbpedia.org/resource/Dual_polarisation_interferometry +
, http://dbpedia.org/resource/Thin-film_optics +
, http://dbpedia.org/resource/Camera_lens +
, http://dbpedia.org/resource/Antireflection_coating +
, http://dbpedia.org/resource/Structural_coloration +
, http://dbpedia.org/resource/Morpho_%28butterfly%29 +
, http://dbpedia.org/resource/Micron +
, http://dbpedia.org/resource/Reflectometric_interference_spectroscopy +
, http://dbpedia.org/resource/Anti-reflection_coating +
, http://dbpedia.org/resource/Fabry%E2%80%93P%C3%A9rot_etalon +
, http://dbpedia.org/resource/Butterfly +
, http://dbpedia.org/resource/File:Thin_film_interference_-_soap_bubble.gif +
|
| http://dbpedia.org/property/wikiPageUsesTemplate
|
http://dbpedia.org/resource/Template:Citation +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Reflist +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Further +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Short_description +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Main +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Pad +
|
| http://purl.org/dc/terms/subject
|
http://dbpedia.org/resource/Category:Thin-film_optics +
|
| http://www.w3.org/ns/prov#wasDerivedFrom
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Thin-film_interference?oldid=1110527208&ns=0 +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/depiction
|
http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Peacock_butterfly_%28inachis_io%29_2.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Tempering_standards_used_in_blacksmithing.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Thinfilmbubble.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Antireflection_coating_split_pic.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/LHcockpitWindow.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Thin_film_interference_phase_2.svg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Thin_film_interference_gasoline_on_water_@_589nm.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Thin_film_interference_phase_1.svg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Thin_film_interference_-_oil_film.gif +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Thin_film_interference_-_soap_bubble.gif +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Thin_film_interference.svg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Thin_film_interference_-_anti-reflection_coating.gif +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Laser_dielectric_output_coupler_centered_@_550nm.png +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Ranunculus_macro.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Soap_bubble_sky.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Newton_Mess_Iridescence.jpg +
, http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Dieselrainbow.jpg +
|
| http://xmlns.com/foaf/0.1/isPrimaryTopicOf
|
http://en.wikipedia.org/wiki/Thin-film_interference +
|
| owl:sameAs |
http://ja.dbpedia.org/resource/%E8%96%84%E8%86%9C%E5%B9%B2%E6%B8%89 +
, http://dbpedia.org/resource/Thin-film_interference +
, http://ru.dbpedia.org/resource/%D0%98%D0%BD%D1%82%D0%B5%D1%80%D1%84%D0%B5%D1%80%D0%B5%D0%BD%D1%86%D0%B8%D1%8F_%D0%B2_%D1%82%D0%BE%D0%BD%D0%BA%D0%B8%D1%85_%D0%BF%D0%BB%D1%91%D0%BD%D0%BA%D0%B0%D1%85 +
, http://rdf.freebase.com/ns/m.0bxywt2 +
, http://fr.dbpedia.org/resource/Interf%C3%A9rence_par_une_couche_mince +
, http://et.dbpedia.org/resource/%C3%95hukese_kile_interferents +
, http://zh.dbpedia.org/resource/%E8%96%84%E8%86%9C%E5%B9%B2%E6%B6%89 +
, http://www.wikidata.org/entity/Q221764 +
, http://tr.dbpedia.org/resource/%C4%B0nce_filmde_giri%C5%9Fim +
, http://he.dbpedia.org/resource/%D7%94%D7%AA%D7%90%D7%91%D7%9B%D7%95%D7%AA_%D7%9E%D7%A9%D7%9B%D7%91%D7%95%D7%AA_%D7%93%D7%A7%D7%95%D7%AA +
, http://ar.dbpedia.org/resource/%D8%A7%D9%84%D8%AA%D8%AF%D8%A7%D8%AE%D9%84_%D9%81%D9%8A_%D8%A7%D9%84%D8%A3%D8%BA%D8%B4%D9%8A%D8%A9_%D8%A7%D9%84%D8%B1%D9%82%D9%8A%D9%82%D8%A9 +
, http://hr.dbpedia.org/resource/Boje_tankih_listi%C4%87a +
, https://global.dbpedia.org/id/26PJi +
, http://de.dbpedia.org/resource/Reflektometrische_D%C3%BCnnschichtmessung +
, http://yago-knowledge.org/resource/Thin-film_interference +
, http://es.dbpedia.org/resource/Interferencia_en_l%C3%A1minas_delgadas +
, http://fa.dbpedia.org/resource/%D8%AA%D8%AF%D8%A7%D8%AE%D9%84_%D9%84%D8%A7%DB%8C%D9%87-%D9%86%D8%A7%D8%B2%DA%A9 +
|
| rdf:type |
http://dbpedia.org/class/yago/WikicatOptics +
, http://dbpedia.org/class/yago/WikicatThin-filmOptics +
, http://dbpedia.org/class/yago/Thing100002452 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Eye105311054 +
, http://dbpedia.org/class/yago/BodyPart105220461 +
, http://dbpedia.org/class/yago/PhysicalEntity100001930 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Part109385911 +
, http://dbpedia.org/class/yago/SenseOrgan105299178 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Organ105297523 +
|
| rdfs:comment |
Die Reflektometrische Dünnschichtmessung i … Die Reflektometrische Dünnschichtmessung ist ein Messverfahren, das auf den Prinzipien der Dünnschichtinterferenz beruht, und dazu dient, die Schichtdicke von dielektrischen Dünnschichten zu bestimmen. Außerdem kann aus den Daten der Brechungsindex des Materials gewonnen werden. Diese Informationen sind von zunehmender Bedeutung, da Dünnschichten heutzutage vielfach eingesetzt werden, z. B. bei Antireflexionsbeschichtungen, der Beschichtung von medizinischen Implantaten oder in der Solarindustrie.en Implantaten oder in der Solarindustrie.
, 假設照射一束光波於薄膜，由於折射率不同，光波會被薄膜的上界面與下界面分別反射，因相互 … 假設照射一束光波於薄膜，由於折射率不同，光波會被薄膜的上界面與下界面分別反射，因相互干涉而形成新的光波，這現象稱為薄膜干涉。對於這現象的研究可以透露出關於薄膜表面的資訊，這包括薄膜的厚度、折射率。薄膜的商業用途很廣泛，例如，增透膜、鏡子、濾光器等等。 现在考虑在另一种材料上的一层薄膜。这种情况下，薄膜的上下表面同时反射光线。总反射光是两部分反射光的总和。由于光的波动性，两个界面的反射光可能干涉相长（强度增加）或干涉相消（强度减小），这取决于它们的相位关系。相位关系取决于两个反射光不同的光程，而光程取决于薄膜厚度，光学常数，和波长。 又光線由光疏介質進入光密介質被反射，光的相位會轉180度（i必須+1/2），所以當光程差2nd = (i+1/2)λ时，两组反射光干涉相長；相反的，當光程差2nd = iλ時，两组反射光相位相反，因而干涉相消。（d是薄膜厚度，i是整数，2是因为下表面反射光穿过薄膜两次） 由此可以看出，薄膜反射率随着1/波长（波长倒数）周期性地变化，如下图所示。较厚的薄膜在给定波长范围内有较多的振荡，而较薄的膜在给定波长范围内有较少，常常不完整的振荡。膜在给定波长范围内有较多的振荡，而较薄的膜在给定波长范围内有较少，常常不完整的振荡。
, Thin-film interference is a natural phenom … Thin-film interference is a natural phenomenon in which light waves reflected by the upper and lower boundaries of a thin film interfere with one another, either enhancing or reducing the reflected light. When the thickness of the film is an odd multiple of one quarter-wavelength of the light on it, the reflected waves from both surfaces interfere to cancel each other. Since the wave cannot be reflected, it is completely transmitted instead. When the thickness is a multiple of a half-wavelength of the light, the two reflected waves reinforce each other, increasing the reflection and reducing the transmission. Thus when white light, which consists of a range of wavelengths, is incident on the film, certain wavelengths (colors) are intensified while others are attenuated. Thin-film interfereothers are attenuated. Thin-film interfere
, 薄膜干渉（はくまくかんしょう）は、薄膜の上下の境界で反射された光波が互いに干渉し、特定の波長の反射光を増強又は低減させる自然現象である。
, Интерфере́нция в тóнких плёнках — явление, … Интерфере́нция в тóнких плёнках — явление, которое возникает в результате разделения луча света при отражении от верхней и нижней границ тонкой плёнки. В результате возникают две световые волны, которые могут интерферировать. Тонкоплёночная интерференция объясняет цветовую палитру, видимую в свете, отражённом от мыльных пузырей и масляных плёнок на воде. Это явление также является основополагающим механизмом, используемым в объективах камер, зеркалах, оптических фильтрах и антибликовых покрытиях.ических фильтрах и антибликовых покрытиях.
, التداخل الضوئي في الاغشيه الرقيقه (بالإنجل … التداخل الضوئي في الاغشيه الرقيقه (بالإنجليزية: Thin-film interference) أن من الممكن أن يتقاطع شعاعان ضوئيان بدون أن يسبب إحداهما أي تغير أو تحوير في الآخر بعد أن يعبرا منطقة التقاطع، بهذا المعنى يقال أن الشعاعين لايتداخل إحداهما مع الآخر. ومع كل ذلك يجب علينا أن نتوقع أن السعة المحصلة والشدة المحصلة في منطقة التقاطع، حيث يؤثر كلا الشعاعين في نفس الوقت، قد تختلف كثيرأً عن مجموع مساهمتي الشعاعين إذا كانا يعملان كل على حدة.هذا التحوير في الشدة نتيجة لتراكيب حزمتين ضوئيتين أو أكثر يسمى التداخل.راكيب حزمتين ضوئيتين أو أكثر يسمى التداخل.
, Las interferencias tienen lugar cuando la … Las interferencias tienen lugar cuando la luz incidente en una lámina delgada es reflejada por las superficies superior e inferior. Al llegar a la primera superficie de separación parte de la luz se refleja (A) y parte se refracta. La parte que se refracta llegará a la segunda superficie de separación donde, de nuevo, parte se refleja y parte se refracta. La parte que se refleja vuelve a la primera superficie de separación y se transmitirá al medio inicial (B). Si el espesor de la lámina es muy pequeño la distancia entre A y B puede ser muy pequeña, del orden de la longitud de onda, así que al final será como tener dos rendijas (experimento de Young), y esto dará lugar a figuras de interferencia. Un ejemplo de esto son los colores que aparecen en una pompa de jabón. Cuando la luz incidentena pompa de jabón. Cuando la luz incidente
, Lorsqu'une couche mince aux parois semi-ré … Lorsqu'une couche mince aux parois semi-réfléchissantes est éclairée en lumière monochromatique parallèle, les rayons issus de la couche sont déphasés entre eux, puisque certains, en rebondissant à l'intérieur, ont pris du retard sur les autres, comme l'illustre le schéma ci-contre. Et donc en utilisant la relation de Snell-Descartes : (Ce qui correspond à un déphasage .)tes : (Ce qui correspond à un déphasage .)
|
| rdfs:label |
Interférence par une couche mince
, Интерференция в тонких плёнках
, 薄膜干渉
, Thin-film interference
, Reflektometrische Dünnschichtmessung
, التداخل في الأغشية الرقيقة
, 薄膜干涉
, Interferencia en láminas delgadas
|
