| http://dbpedia.org/ontology/abstract
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組み込み自己診断（くみこみじこしんだん、英: built-in self-test, … 組み込み自己診断（くみこみじこしんだん、英: built-in self-test, or built-in test、BIST, or BIT）は、自己診断機能（じこしんだんきのう、英: self-diagnosis function）ともいい、機械が自分自身を検査できる機構である。技術者は、次のような要件を満たすためにBISTを設計する。
* 信頼性の向上
* の短縮 また、次のような制約が伴う。
* 技術者のアクセス制限
* 製造時のテスト費用 BISTの主な目的は、複雑さの軽減、それによる費用の削減、そして外部テスト機器（パターンプログラム）への依存を減らすことである。BISTは2つの方法で費用を削減する。
* テストサイクル期間を短縮する。
* テスターの制御下で駆動/検査する必要があるI/O信号数を減らすことにより、テスト/プローブのセットアップの複雑さを軽減する。 どちらも、サービスの時間当たり料金の削減につながる。ットアップの複雑さを軽減する。 どちらも、サービスの時間当たり料金の削減につながる。
, A built-in self-test (BIST) or built-in te … A built-in self-test (BIST) or built-in test (BIT) is a mechanism that permits a machine to test itself. Engineers design BISTs to meet requirements such as:
* high reliability
* lower repair cycle times or constraints such as:
* limited technician accessibility
* cost of testing during manufacture The main purpose of BIST is to reduce the complexity, and thereby decrease the cost and reduce reliance upon external (pattern-programmed) test equipment. BIST reduces cost in two ways: 1.
* reduces test-cycle duration 2.
* reduces the complexity of the test/probe setup, by reducing the number of I/O signals that must be driven/examined under tester control. Both lead to a reduction in hourly charges for automated test equipment (ATE) service.or automated test equipment (ATE) service.
, 내장 자체 시험(BIST: Built-in Self-test) 또는 내장 시 … 내장 자체 시험(BIST: Built-in Self-test) 또는 내장 시험 장치(BIT: Built-in Test)는 기계가 스스로 테스트할 수 있게 하는 매커니즘이다. 내장 자체시험 장치는 다음과 같은 요구사항을 충족시키기 위해서 설계되었다.
* 높은 신뢰성
* 낮은 수리 주기 횟수 그리고 다음의 제약조건들을 고려하여 설계되었다.
* 제한된 기술자 접근성
* 제조시 테스트 비용 BIST의 주요 목적은 복잡함을 감소시킴으로써 비용을 줄이고 외부(패턴 프로그램) 테스트 장비에 대한 의존도를 줄이는 것이다. BIST는 두 가지 방법으로 비용을 절감한다 : 1.
* 테스트 순환 주기를 감소시킨다 2.
* 테스트 제어에 있어 꼭 구동/검사 되어야할 I/O신호의 수를 줄임으로써 테스트/프로브 셋업의 복잡성을 줄인다. 두 방법 모두 자동 시험 장치(ATE) 서비스에 대한 시간당 비용을 감소시키는 결과를 낳는다. 시험 장치(ATE) 서비스에 대한 시간당 비용을 감소시키는 결과를 낳는다.
, Самоперевірка (англ. Self-test) — здатніст … Самоперевірка (англ. Self-test) — здатність системи та її окремих елементів (датчиків, контролерів, джерел живлення, кабельних комунікацій тощо), яка дозволяє на програмному рівні періодично (автоматично чи за командою оператора) перевіряти їх працездатність.ю оператора) перевіряти їх працездатність.
, 内建自我测试（built-in self-test, BIST）也稱為内建测试（bu … 内建自我测试（built-in self-test, BIST）也稱為内建测试（built-in test、BIT），是一種讓設備可以自我檢測的機制，也是可测试性设计的一种实现技术。工程師會為了符合以下需求，在設計時加入内建自测试：
* 高可靠度
* 較低的維修次數 也可能是因為以下的限制而加入内建自测试：
* 不易聯絡技術人員維修
* 在製造生產時的測試成本考量。 内建自测试的目的之一是在簡化產品複雜度，因此降低成本，並且減少對外部測試設備的依賴程度。内建自测试可以在以下二方面減少成本： 1.
* 減少測試週期的時間 2.
* 減少在測試時需要驅動或是檢測的信號數量，因此減少測試/測試探針設計的複雜度。 兩者都可以縮短自動測試設備（ATE）的測試時間。此減少測試/測試探針設計的複雜度。 兩者都可以縮短自動測試設備（ATE）的測試時間。
, Built-in self-test (BIST) bedeutet, dass e … Built-in self-test (BIST) bedeutet, dass ein elektronischer Baustein eine integrierte Testschaltung besitzt, welche Testsignale erzeugt und meist auch mit vorgegebenen richtigen Antwort-Signalen vergleicht, so dass das Testresultat an ein ATE (Automatic Test Equipment) ausgegeben werden kann. Built in self tests sind durch automatisierte Designprozesse immer einfacher zu implementieren und nehmen bei der heute üblichen großen Anzahl von Schaltelementen relativ wenig Platz ein, reduzieren aber den materiellen und zeitlichen Aufwand beim Testen erheblich. Sie werden auch zum regulären Selbsttest von Prozessoren während ihrer Anwendung oder beim Ein- bzw. Ausschalten verwendet, um Fehlfunktionen rechtzeitig zu erkennen und Folgeschäden zu vermeiden. Es existieren verschiedene Arten von Built in self tests:
* Analog- und Mixed-Signal-BIST
* Boundary Scan Test
* Logik-BIST
* Prozessor-BIST
* Signaturanalyse
* Speicher-BIST – z. B. mit demuranalyse
* Speicher-BIST – z. B. mit dem
, Un built-in self-test, souvent appelé par … Un built-in self-test, souvent appelé par l'acronyme BIST, est un mécanisme permettant à un système matériel ou logiciel[réf. nécessaire], ou comprenant les deux, de se diagnostiquer lui-même. Le diagnostic peut être déclenché soit par l'utilisateur soit automatiquement. Si le diagnostic se fait automatiquement, il peut se faire à intervalle régulier, par déclenchement d'un circuit d'autosurveillance ou encore en continu. On trouve souvent ce mécanisme dans les circuits intégrés, car il permet une automatisation de la vérification du circuit. Cette vérification se fait avant la vérification fonctionnelle.
* Portail de l’électricité et de l’électroniquetail de l’électricité et de l’électronique
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| http://dbpedia.org/ontology/wikiPageExternalLink
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http://www.analog.com/library/analogDialogue/archives/42-02/bist.html +
, http://www.eventhelix.com/RealtimeMantra/FaultHandling/hardware_diagnostics.htm +
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, http://dbpedia.org/resource/SONET +
, http://dbpedia.org/resource/Integrated_circuit +
, http://dbpedia.org/resource/BIOS +
, http://dbpedia.org/resource/Line-replaceable_unit +
, http://dbpedia.org/resource/Medical_device +
, http://dbpedia.org/resource/Avionics +
, http://dbpedia.org/resource/Random-access_memory +
, http://dbpedia.org/resource/Combinational_logic +
, http://dbpedia.org/resource/Internet_Protocol +
, http://dbpedia.org/resource/Logic_built-in_self-test +
, http://dbpedia.org/resource/Attitude_control +
, http://dbpedia.org/resource/Joint_Test_Action_Group +
, http://dbpedia.org/resource/Embedded_system +
, http://dbpedia.org/resource/System_engineering +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Maintenance +
, http://dbpedia.org/resource/Repair_cycle +
, http://dbpedia.org/resource/Reliability_engineering +
, http://dbpedia.org/resource/Safety_engineering +
, http://dbpedia.org/resource/Fieldbus +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Test_equipment +
, http://dbpedia.org/resource/LBIST +
, http://dbpedia.org/resource/Original_equipment_manufacturer +
, http://dbpedia.org/resource/Minuteman_Missile +
, http://dbpedia.org/resource/Weapon +
, http://dbpedia.org/resource/Watchdog_timer +
, http://dbpedia.org/resource/Antilock_brake_system +
, http://dbpedia.org/resource/Built-in_test_equipment +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Integrated_circuits +
, http://dbpedia.org/resource/PBIST +
, http://dbpedia.org/resource/Pseudorandom_number_generator +
, http://dbpedia.org/resource/Institute_of_Electrical_and_Electronics_Engineers +
, http://dbpedia.org/resource/Power_supply +
, http://dbpedia.org/resource/Power-on_self-test +
, http://dbpedia.org/resource/Cyclic_redundancy_check +
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http://dbpedia.org/resource/Template:Reflist +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Refimprove +
, http://dbpedia.org/resource/Template:Cn +
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| http://purl.org/dc/terms/subject
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http://dbpedia.org/resource/Category:Test_equipment +
, http://dbpedia.org/resource/Category:Maintenance +
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| http://purl.org/linguistics/gold/hypernym
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, http://www.wikidata.org/entity/Q181142 +
, http://ko.dbpedia.org/resource/%EB%82%B4%EC%9E%A5_%EC%9E%90%EC%B2%B4%EC%8B%9C%ED%97%98 +
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| rdf:type |
http://dbpedia.org/ontology/Organisation +
, http://dbpedia.org/class/yago/IntegratedCircuit103577090 +
, http://dbpedia.org/class/yago/Whole100003553 +
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| rdfs:comment |
Built-in self-test (BIST) bedeutet, dass e … Built-in self-test (BIST) bedeutet, dass ein elektronischer Baustein eine integrierte Testschaltung besitzt, welche Testsignale erzeugt und meist auch mit vorgegebenen richtigen Antwort-Signalen vergleicht, so dass das Testresultat an ein ATE (Automatic Test Equipment) ausgegeben werden kann. Built in self tests sind durch automatisierte Designprozesse immer einfacher zu implementieren und nehmen bei der heute üblichen großen Anzahl von Schaltelementen relativ wenig Platz ein, reduzieren aber den materiellen und zeitlichen Aufwand beim Testen erheblich. Sie werden auch zum regulären Selbsttest von Prozessoren während ihrer Anwendung oder beim Ein- bzw. Ausschalten verwendet, um Fehlfunktionen rechtzeitig zu erkennen und Folgeschäden zu vermeiden.zu erkennen und Folgeschäden zu vermeiden.
, 내장 자체 시험(BIST: Built-in Self-test) 또는 내장 시 … 내장 자체 시험(BIST: Built-in Self-test) 또는 내장 시험 장치(BIT: Built-in Test)는 기계가 스스로 테스트할 수 있게 하는 매커니즘이다. 내장 자체시험 장치는 다음과 같은 요구사항을 충족시키기 위해서 설계되었다.
* 높은 신뢰성
* 낮은 수리 주기 횟수 그리고 다음의 제약조건들을 고려하여 설계되었다.
* 제한된 기술자 접근성
* 제조시 테스트 비용 BIST의 주요 목적은 복잡함을 감소시킴으로써 비용을 줄이고 외부(패턴 프로그램) 테스트 장비에 대한 의존도를 줄이는 것이다. BIST는 두 가지 방법으로 비용을 절감한다 : 1.
* 테스트 순환 주기를 감소시킨다 2.
* 테스트 제어에 있어 꼭 구동/검사 되어야할 I/O신호의 수를 줄임으로써 테스트/프로브 셋업의 복잡성을 줄인다. 두 방법 모두 자동 시험 장치(ATE) 서비스에 대한 시간당 비용을 감소시키는 결과를 낳는다. 시험 장치(ATE) 서비스에 대한 시간당 비용을 감소시키는 결과를 낳는다.
, A built-in self-test (BIST) or built-in te … A built-in self-test (BIST) or built-in test (BIT) is a mechanism that permits a machine to test itself. Engineers design BISTs to meet requirements such as:
* high reliability
* lower repair cycle times or constraints such as:
* limited technician accessibility
* cost of testing during manufacture The main purpose of BIST is to reduce the complexity, and thereby decrease the cost and reduce reliance upon external (pattern-programmed) test equipment. BIST reduces cost in two ways: Both lead to a reduction in hourly charges for automated test equipment (ATE) service.or automated test equipment (ATE) service.
, 組み込み自己診断（くみこみじこしんだん、英: built-in self-test, … 組み込み自己診断（くみこみじこしんだん、英: built-in self-test, or built-in test、BIST, or BIT）は、自己診断機能（じこしんだんきのう、英: self-diagnosis function）ともいい、機械が自分自身を検査できる機構である。技術者は、次のような要件を満たすためにBISTを設計する。
* 信頼性の向上
* の短縮 また、次のような制約が伴う。
* 技術者のアクセス制限
* 製造時のテスト費用 BISTの主な目的は、複雑さの軽減、それによる費用の削減、そして外部テスト機器（パターンプログラム）への依存を減らすことである。BISTは2つの方法で費用を削減する。
* テストサイクル期間を短縮する。
* テスターの制御下で駆動/検査する必要があるI/O信号数を減らすことにより、テスト/プローブのセットアップの複雑さを軽減する。 どちらも、サービスの時間当たり料金の削減につながる。ットアップの複雑さを軽減する。 どちらも、サービスの時間当たり料金の削減につながる。
, 内建自我测试（built-in self-test, BIST）也稱為内建测试（bu … 内建自我测试（built-in self-test, BIST）也稱為内建测试（built-in test、BIT），是一種讓設備可以自我檢測的機制，也是可测试性设计的一种实现技术。工程師會為了符合以下需求，在設計時加入内建自测试：
* 高可靠度
* 較低的維修次數 也可能是因為以下的限制而加入内建自测试：
* 不易聯絡技術人員維修
* 在製造生產時的測試成本考量。 内建自测试的目的之一是在簡化產品複雜度，因此降低成本，並且減少對外部測試設備的依賴程度。内建自测试可以在以下二方面減少成本： 1.
* 減少測試週期的時間 2.
* 減少在測試時需要驅動或是檢測的信號數量，因此減少測試/測試探針設計的複雜度。 兩者都可以縮短自動測試設備（ATE）的測試時間。此減少測試/測試探針設計的複雜度。 兩者都可以縮短自動測試設備（ATE）的測試時間。
, Самоперевірка (англ. Self-test) — здатніст … Самоперевірка (англ. Self-test) — здатність системи та її окремих елементів (датчиків, контролерів, джерел живлення, кабельних комунікацій тощо), яка дозволяє на програмному рівні періодично (автоматично чи за командою оператора) перевіряти їх працездатність.ю оператора) перевіряти їх працездатність.
, Un built-in self-test, souvent appelé par … Un built-in self-test, souvent appelé par l'acronyme BIST, est un mécanisme permettant à un système matériel ou logiciel[réf. nécessaire], ou comprenant les deux, de se diagnostiquer lui-même. Le diagnostic peut être déclenché soit par l'utilisateur soit automatiquement. Si le diagnostic se fait automatiquement, il peut se faire à intervalle régulier, par déclenchement d'un circuit d'autosurveillance ou encore en continu.
* Portail de l’électricité et de l’électroniquetail de l’électricité et de l’électronique
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| rdfs:label |
Built-in self-test
, 내장 자체시험
, 内建自测试
, Самоперевірка
, 組み込み自己診断
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